2026年度课程《电路可靠性设计制造与认证试验》公开课，助您提升专业能力！

课程名称：《电路可靠性设计制造与认证试验》

（可到企业内部培训）

讲 师：张老师

时间地点：上海8月28-29日

主办单位：赛盛技术

课程背景

随着电子产品的体积与重量日益缩小，技术含量不断扩大，智能化程度成倍提高，对电子产品可靠性的要求已成为衡量其质量最重要的技术指标之一。可靠性不仅在国防、航天、航空等尖端技术领域倍受关注，在工业、民用电子等领域也同样得到重视。国际领先企业非常重视产品的可靠性，并将产品的可靠性贯穿于整个产品的设计、研发、和生产全过程，以确保产品质量。与发达国家相比，目前我国电子产品的可靠性亟待提高。

课程特色

引导理念转变---培训中深入浅出介绍可靠性对企业和个人发展的重要性，让大家认识到可靠性不仅是产品质量的保障，更是企业竞争力的体现，也是员工技能提升的重要途径，从而在观念上实现从“要我可靠”到“我要可靠”的转变。系统性知识导入---培训从可靠性基础理论到工程实践，内容涵盖了可靠性工程的全貌，使大家能够全面、系统地掌握可靠性知识，为实际工作提供有力的知识积累和支撑。实用技术培训---面向行业热点和基础人员的困惑，培训以实际操作例子，传授可靠性技术的实际应用方法，例如，可靠性建模、预计、潜在分析、储备设计、电子三防、元器件应用和可靠性认证试验等方法。通过培训，让大家学会运用这些方法解决实际问题。针对性案例启发---授课为模板演示讲解、案例讨论和反串教学方式。培训中穿插了大量的案例分析，使大家能够针对不同场景、不同问题，灵活运用可靠性定性设计知识，例如可靠性指标、可靠性指标的试验认证、激活能（或称活化能）的试验测算、元器件正确应用、容差设计、潜在分析等等、提高设计师设计和试验人员中解决问题的能力。

面向人群

硬件设计工程师，硬件测试工程师，PCB设计工程师，可靠性工程师、EMC工程师，PI工程师，SI工程师，项目经理，技术支持工程师，研发主管,研发总监,研发经理,测试经理,系统测试工程师，具有1年以上工作经验的硬件设计师、项目管理人员。

课程内容

第1章 可靠性是如何炼成的

一、某企业可靠性战略图

二、某企业全面可靠性战略图

三、可靠性设计包括那些那些工作？

四、某制造企业的可靠性战略图

五、可靠性测试的战略图

第2章 可靠性的基本概念与参数

一、概念：

1.标准的可靠性定义 2.图解

三、可靠性参数：

1. MTBF 2.MTTF 3.可靠度R (t) 4.平均维修间隔时间—MTTR 5.故障率(失效率）λ(t)6.有效度 7.可靠寿命 8.B10

四、电路常用的寿命分布模型

1.指数分布

a)不可靠度 b)可靠度 c)故障率。

2.正态与对数正态分布

A.不可靠度B.可靠度C.故障率 D.案例 电池充放电寿命的计算

3.威布尔分布

A.不可靠度 B.三个参数 C.故障率 D.威布尔分布特点

4.扩展思考：

元器件试验中、电路板试验、轮胎的寿命试验中替换与不替换的原因。威布尔分布的失效率与时间的关系等等。

第3章 实用的可靠性计算方法

一、如何快速计算电路的MTBF（点估计值）

1．点估计【案例】

2．无失效时MTBF的计算【案例】

二、如何在设计阶段预计电路的MTBF

1案例 元器件恒定失效率预计

2案例：恒定状态失效率预计

三、客户要求指标与MTBF之间如何转换？

案例1 要求累积故障率的情况

案例2 要求年维修率的指标分析

四、Downtime计算 （案例）

五、返修率与可靠性的关系【案例】

六、什么是B10寿命、BX寿命？如何计算电路的B10寿命？【案例】

第4章 可靠性的数据类型与参数估计

1.数据类型

2.点估计、区间估计与置信度

3.指数分布参数估计

4.威布尔分布的3参数估计

5.应用案例-MINITAB操作

第5章 电路的可靠性目标（指标）

一、电路常用的可靠性指标

1.单个的失效率指标 2.单个MTBF指标 3.单个的可靠度指标 4.单个的成功率指标

二、有置信度要求的可靠性指标

1、汽车电子常用产品可靠性的要求（置信度、寿命、可靠度）；

2、医疗器械可靠性指标要求（置信度、可靠度、寿命）；

3、国军标的可靠性认证（置信度、MTBF）

第6章 电路可靠性目标的试验认证

一、可靠性目标（指标）证明方法概述

二、指数分布有置信度的可靠性认证

1、确定产品单元；2、定义的目标；3、确定产品使用寿命相关的负荷；4、试验持续时间的计算；5、样品数计算；6、样品数有限定时的应用；6、应用示例。

三、威布尔分布有置信度可靠性认证

1、确定产品单元；2、定义的目标；3、确定产品使用寿命相关的负荷；4、试验持续时间的计算；5、样品数有限定时的应用；6、诺莫图（Nomogram)的应用；7、样品数的计算；8、试验时间有变化的情况；9、应用示例。

第7章 常用的加速寿命试验模型

一、不同加速模型与因子概述；

二、温度加速模型；

三、电应力加速模型；

四、高温高湿模型；

五、温度循环模型；

六、应用示例

第8章 以FITS为单位计算故障率的方法

一、统计基础

1、X2分布；2、伽玛分布。

二、单一激活能-恒定故障率分布计算

1、数据；2、加速因子；36、案例

三、多激活能-恒定故障率分布计算

1、数据；2、激活能；3、案例

四、多种激活能-老炼时间已知的早期失效率计算

1、数据；2、激活能；3、案例

第9章 电容器的选型与可靠应用

一、电容器的等效电路与主要参数影响

1.等效电路 2.ESR 3.ESL 4.案例：LD0电源应用中滤波电容的ESR问题

二、瓷介电容器的预防措施或注意事项

(一)避免采用陶瓷电容的场合

(二)应用案例

1．【案例】陶瓷电容选型错误导致单板丢数据包，

2．不同类型电容的容值温度曲线

3．最大允许数据帧比特位的计算。

4．不同封装电容器的应用

5．【案例】高速电路中电容问题导致CPU工作不稳定

(三)陶瓷电容器失效率计算

(四)陶瓷电容器加速系数计算

三、钽电解电容器的预防措施或注意事项

(一)钽电解电容的主要失效模式

(二)避免采用钽电解电容器的场合

(三)钽电容及其应用要点

(四)应用预防案例

1.案例 慎重选择电容器耐压

2.纹波电压的选择

3.案例 注意使用频率的选择

4.电容的ESR的正确理解

5.案例 片式钽电容器烧毁

(五)钽电解电容器失效率计算

(六)钽电解电容器加速系数计算

三、铝电解电容及其应用要点

(一)铝电解电容的主要失效模式

(二)避免采用铝电解电容器的场合

(三)铝电解电容及其应用要点

1.案例 大电容组装的注意事项

2.案例 低温下硬盘停止工作

3.案例 带电插拔子板致电容损坏

(四)铝电解电容器失效率计算

(五)电解电容器加速系数计算

第10章 电阻器的选型与可靠应用

一、电阻器的主要失效模式

二、电阻器的应用要点

三、电阻器可靠应用的经典案例

1.【案例】串联电阻过大

2.【案例】电阻额定功率不足

3.【案例】电阻在时序设计中的妙用

四、电位器的选用

五、电阻器的失效率计算

六、电阻器的加速系数计算

第11章 电感、磁珠的正确选用

一、电感、磁珠应用中的主要失效模式

二、电感、磁珠的应用特点

三、电感的应用案例

1.案例 输出电源电压纹波超标，2.案例 大电流通路电压衰减，3.案例 过流保护电路失效

四、电感的失效率计算

第12章 半导体器件的可靠应用及故障预防

一、主要失效模式与原因

1.失效原因，2.器件本身的缺陷，3.使用不当导致失效

二、使用中的预防措施

1.案例 注意半导体器件的结温

2.案例 注意功率器件热结构缺陷

3.案例注意在潮湿环境下储存的器件

4.案例 关注器件的瞬态工作参数

5.案例 某整机使用过程中二极管、三极管失效

6.案例 MOSFET电源中电阻发热严重

7.案例 MOSFET同时导通导致器件损坏

三、半导体分立器件的正确选用

四、半导体分立器件的失效率计算:

1.半导体器件的加速系倍数

2.失效率计算

第13章 集成电路常见失效模式及预防对策

一、失效模式与失效机理

1.FA案例－静电放电引起失效

2.FA案例－电路中电压瞬变引起失效

3.FA案例--水汽和卤离子引起失效

二、逻辑集成电路应用概要

1.FA 案例--逻辑器件驱动能力过强

2.FA案例--逻辑器件差异造成配置错误

三、集成电路的失效率计算

1.半集成电路的加速系倍数

2.失效率计算

四、防静电

1.案例 MOS场效应晶体管——静电击穿

2.案例 3DG142 现象

3.预防 ESD 损伤的措施

1）设置防静电工作区

2）铺设防静电地板

3）防静电工作台

4）相对湿度应控制

5）防静电接地系统的设置

6）防静电器具

4.ESD诊断示例

5.电路设计的ESD保护

1)电容保护，2)电阻-电容保护，3) TVS，4)布线时TVS的位置

六、案例某电路失效的根因分析

第14章 继电器、开关可靠应用及故障预防

一、继电器的主要失效模式及其分布

1.案例 继电器—触点电腐蚀

2.继电器的选用注意事项

二、继电器的误用预防或警告

1.并联触点，2.电路的瞬态浪涌，3.在额定值尚未确定的负载条件下使用继电器，4.转换异步电源之间的负载，5.多相电路转换，6.用继电器来转换马达负载，7.继电器线圈由缓慢增大的电流控制时， 8.继电器的设置和安装，9.触点串联工作，10.在额定冲击和（或）振动等级条件下使用继电器。

三、继电器失效率计算

第15章 印刷电路板及其组件可靠性问题及其预防案例

一、PCB设计中的ESD防护

（一）防护器件

1)TVS管，案例 TVS管布放位置不合理导致静电放电测试失败，2)压敏电阻 ，3)气体放电管

（二）防护设计要点

案例GND和HV GND混用

二、PCB设计与结构、易用性

案例1网口指示灯排列顺序出错

案例2网口连接器堆叠方式

三、印刷电路板和印刷电路板组件的失效机理和案例；

(一)失效机理

(二)阳极导电丝( CAF)生长机理与案例

1.LED灯常亮，2.电池保护板烧蚀。

四、印制板失效率计算

第16章 潜在通路分析

一、潜在通路设计标准

二、潜在通路原理与分析流程

1.潜在通路来源，2.潜在通路分析方法

三、防潜在通路设计规则与案例

规则一：多电源多地的配电电路

规则二：多负载电源的接通

规则三：开关标记

规则四：数字信号分开后再合成引起的潜在定时。

规则五：小心H型电路

【案例】汽车电控电路

规则六：小心大线圈与大电容

【案例】起重操控台电路的潜在通路

规则七：注意时间

【案例】潜在时间

【案例】测量设备天线控制电路

规则八：潜在标志

四、潜在通路的设计评审要点

第17章 储备设计

一.储备的含义和方式

二.储备健壮设计和方式(续）

三.各种贮备方式对可靠性的提高：

1.并联贮备，2.表决贮备，3.串、并组合贮备。

【案例】某城市地铁电源系统的储备设计

第18章 复位、时钟电路的可靠性设计

一、复位电路设计

（一）复位设计常见问题

1.未提供复位信号

案例存储模块读取的错误

2.复位时序不正确

3.复位信号驱动能力不足

(二)复位电路设计经典案例

案例主控板无法查询到接口板

二、与时钟电路相关的经典案例

1.案例 系统时钟偏快的问题

2.案例 PHY寄存器无法读取的问题

案例高温流量测试丢包问题

第19章 电路的容差与漂移设计

一、电路的容差与漂移设计

二、容差与漂移设计的案例

案例1 继电器控制电路

案例2 晶振时钟电路

三、分析方法方法举例

案例1 最坏情况法（Worst-Case）

案例2 电路仿真软件

第20章 电路设计中的热设计

一、热对可靠性影响计算与案例解析

二、元器件连续工作和断续工作，对寿命的影响

三、热设计的原则

1.热设计中元器件布局案例（3案例）

2.热设计中元器件的安装原则（3案例）

3.鼓风机的选择与安装（2案例）

4.冷却剂流道设计（3案例）

四、改善热设计的方法及示例

1.改进现有热设计的方法

2.成功改进的例子

案例1 密封电子设备

案例2 机载电子设备

第21章 电路FMEA

一、FMEA的概念与意义

二、军标FMEA/FMECA分析的步骤

三、QS9000、16949的FMECA方法

四、分析实例

第22章 总结与提高---电路可靠性实施流程

一、可靠性设计与认证流程图

二、开发需求分析

三、环境的识别

四、指标识别

五、可靠性建模、预计与分配

六、部件及元器件选用

七、开展可靠性定性设计，电路设计

九、开展可靠性设计检查

十、设计认证试验

十一、总结

优质售后服务，提升培训效果

参训学员或者企业在课程结束后，可以享受相关赛盛技术的电磁兼容技术方面优质售后服务，作为授课之补充，保证效果，达到学习目的。主要内容如下：

1.【技术问题解答】培训后一年内，如有课程相关技术问题或管理问题，可通过电话、邮件联系赛盛技术，我们将根据实际情况安排人员沟通回复；

2.【定期案例分享】分享不断，学习不断；

3.【技术交流群】加入正式技术交流群，与行业大咖零距离沟通；

4.【EMC元件选型技术支持】如学员在EMC元件选择或应用上有不清楚的地方可随时与赛盛技术沟通；

5.【往期经典案例分析】行业典型EMC案例分享、器件选型等资料。

6.【研讨会】不限人数参加赛盛技术线上或者线下研讨会，企业内部工程师可相互分享，共同成长。

7.【EMC测试服务】在赛盛技术进行EMC测试服务，可享受会员折扣服务！

讲师资历——张老师

张老师，某研究所正高级工程师，系统可靠性专家，高级顾问，西安理工大学可靠性研究院特聘教授。张老师是国务院省级政府质量考核专家、教育部职业教育指导委员会电子信息委员、京沪渝市场监管系统质量可靠性专家、中国电子学会第八届理事会理事；中国轨道交通网安全理事会理事；中国质量协会可靠性促进委员会专家委员；《环境试验》《电子产品可靠性与环境试验》编委；TSQ创始人、首席诊断师，具有中国质量工程师培训执教资格。张老师出版了《电子产品可靠性预计》、《以可靠性为中心的质量设计、分析和控制》，《可靠性设计》等专著。发表学术论文20篇。获得部级二、三等奖各一次，航空科技进步三等奖一项，获发明专利2项。在国内首次提出质量可靠性整体解决技术方法，并在400家企业推广应用。张老师主要从事产品可靠性试验和可靠性技术研究。负责了五个国家重点工程的部件优选工作，开展可靠性预计、可靠性设计、可靠性分析等研究工作。主持了GJB/Z299《电子设备可靠性预计手册》关键技术研究，并相继发布了B、C版。负责GB/T7826《故障模式、影响及危害性分析》和GB/T7829《故障树分析（FTA）》等标准制定。张老师有丰富的实践经验和企业诊断经验。曾为广州地铁电源系统、三一重机、重庆电网、沈阳医疗设备等公司完成可靠性、维修性设计建议书；为中电科技集团14所、10所、26所、康佳、TCL、美的等500+家单位的技术人员进行了公开或内部的可靠性设计、可靠性预计、可靠性试验、3F方法、元器件选用等方面的技术培训或讲座，受众达10万人。

主办单位介绍

深圳市赛盛技术有限公司位于深圳宝安区，2005年成立，是国内首家为电子企业提供全流程全方位的电磁兼容(EMC)方案提供商；

服务范围：EMC设计、EMC整改、EMC流程建设、EMC仿真、EMC测试及EMC培训、硬件培训等技术服务。

赛盛技术自2006年开始自主举办EMC培训，2010年后开始加入信号完整性培训、可靠性培训、硬件电路培训等服务，截至目前为9000+企业提供过培训服务，超过30000+研发工程师参加过培训，同时受到企业与工程师一致认可！

培训初心：帮助企业提升研发团队能力帮助企业解决产品技术问题帮助企业缩短产品上市周期